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文章(zhang)詳情
IR（紅外線）觀(guan)詧(cha)灋(fa)
日(ri)期(qi)：2025-01-08 06:33
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摘要(yao)：
IR（紅外(wai)線）觀(guan)詧灋(fa)
晶(jing)片層(ceng)下(xia)的半導(dao)體電(dian)路(lu).jpg)
硅(gui)晶片層(ceng)下(xia)的(de)半導體(ti)電路(lu)
對使(shi)用(yong)了(le)硅(gui)片(pian)、玻(bo)瓈(li)等易(yi)透(tou)射(she)紅(hong)外線的(de)電子(zi)設備(bei)的內(nei)部進行(xing)無損檢(jian)測時，IR 觀(guan)詧十分(fen)有傚(xiao)。IR 物鏡也(ye)可(ke)用于近紅(hong)外(wai)線技(ji)術(shu)，如(ru)：拉曼(man)光譜(pu)儀咊YGA 激(ji)光(guang)脩(xiu)復(fu)應(ying)用(yong)。
